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Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread

  • Fornitore Verificato
  • 1 anni

Specifiche del Prodotto

modello di lente laser
gamma di lenti laser/μm
risoluzione dell'asse z/nm
dimensione del punto/μm

Contatta il fornitore

Punto Saliente del Prodotto

  • Design integrato 3-in-1, che combina tre funzioni fondamentali: scansione morfologica, sintesi ad altissima profondità e unione di immagini, e misurazione 3D.
  • Può sostituire diversi dispositivi, tra cui profilometri ottici, microscopi ad altissima profondità, strumenti di misurazione del contorno e microscopi di misurazione, riducendo notevolmente i costi di acquisto delle attrezzature e lo spazio necessario.
  • Utilizza la tecnologia di scansione confocale spettrale laser, senza contatto fisico e con pressione zero durante la misurazione, evitando graffi, deformazioni o contaminazioni sui campioni.
  • Compatibile con materiali fragili come wafer di silicio, film sottili, rame espanso e componenti stampati in 3D, per realizzare test non distruttivi.
  • Adatto per la misurazione di rugosità a livello di micrometro, micro-texture a livello di millimetro e tolleranze geometriche a livello di metro.
  • Nuova funzione di selezione visiva con telecamera di navigazione globale, che consente di passare facilmente tra la visualizzazione di navigazione e quella di misurazione, e di selezionare l'area di scansione con un solo clic, sia per aree estese che per piccole zone locali.
  • Il design di messa a fuoco sincronizzata delle lenti di misurazione e delle lenti laser supporta l'anti-collisione automatica, accelerando notevolmente la messa a fuoco e migliorando l'efficienza complessiva dei test di oltre il 50%.
  • Genera modelli 3D di nuvole di punti a colori reali/falsi, con possibilità di esportazione con un solo clic di report in formato CSV, Excel, PDF e dei dati grezzi della nuvola di punti, per la tracciabilità.
  • Software di analisi intelligente all-in-one, con strumenti di misurazione 2D e 3D completi, che supporta il calcolo in batch di dimensioni planari, sezioni del contorno, differenze di altezza, volume/area e rugosità superficiale.
  • Compatibile con diversi materiali, tra cui vetro trasparente, metallo, schiuma, polimeri, wafer di semiconduttori e ceramica.

Spedizione

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Garanzia di Pagamento
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Logistica della Piattaforma
Tracciamento spedizioni più chiaro con logistica supportata dalla piattaforma
Servizio di Ispezione
Ispezione pre-spedizione opzionale per controlli di qualità e quantità
Assistenza Post-vendita & Gestione Controversie
Risoluzione delle controversie assistita dalla piattaforma, inclusi rimborsi o resi quando applicabile

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Immagini del Prodotto di Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread

Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
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Descrizione del Prodotto

Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Descrizione del prodotto
Sullo sfondo della crescente domanda di microispezione nella produzione di fascia alta e nella ricerca di precisione, è emerso il microscopio di misurazione 3 in 1 Kathmatic, con "multimodale, ampio campo visivo, alta precisione e velocità rapida" come posizionamento principale. Integra in un unico dispositivo le funzioni di profilometri 3D, microscopi a profondità ultra e strumenti di misurazione del contorno, fornendo una soluzione one-stop per la micro misurazione. L'apparecchiatura adotta la tecnologia confocale spettrale e l'algoritmo di sintesi della profondità, che consente di catturare con precisione le fluttuazioni di livello da nano a centimetro sulla superficie del campione, ottenendo misurazioni 3D non distruttive, ad alta efficienza e full-dimensionali.
Il microscopio di misurazione 3 in 1 Kathmatic semplifica notevolmente il processo operativo in base ai punti critici effettivi degli utenti, con messa a fuoco automatica, scansione e analisi, riducendo la soglia per gli operatori; La telecamera di navigazione globale è in grado di individuare rapidamente l'area di destinazione, supportare la commutazione flessibile tra ampia gamma e alta precisione e bilanciare l'efficienza di rilevamento e la precisione delle misurazioni. L'apparecchiatura è dotata di lenti a più gamme, che coprono da ± 50 μ m a ± 5000 μ m, per soddisfare le esigenze di rilevamento di diverse scale, come microlenti, chip, componenti metallici e pezzi di grandi dimensioni, ottenendo un "dispositivo che copre la misurazione completa della scena".
A livello funzionale, il dispositivo può eseguire analisi planari, misurazioni di contorni, calcoli di area volumetrica, analisi della rugosità della superficie (Ra/Rz/SA/Sz) e analisi della planarità, generare automaticamente report di dati professionali ed è compatibile con più formati di file per l'esportazione. È adatto a vari scopi, come documenti di ricerca scientifica, controllo della qualità della produzione e ottimizzazione dei processi. Rispetto ai tradizionali misuratori di ruvidità, profilometri, microscopi elettronici e altre apparecchiature, il microscopio di misurazione 3 in 1 Kathmatic non richiede una preparazione complessa dei campioni, non danneggia i campioni, ha dimensioni di misurazione più complete, dati più intuitivi e un'efficienza più elevata.
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Specifiche
Macchina principale
Modello
Serie KC-X3000
Tecnologia di imaging
Confocale spettrale laser, acquisizione di immagini a colori reali, sintesi della profondità, composizione delle immagini
Metodo di costruzione di nuvole di punti 3D
Scansione punto per punto
Carico fase XY/kg
5
Per ulteriori tipi di palco, consultare la nostra azienda
Gamma mobile del tavolino XY/mm
158x128
Metodo di azionamento a fase XY
Motore lineare
Velocità di spostamento dello stadio XY
50 mm/s.
Intervallo di scansione dello stadio XY
1~500μm
Direzione di scansione dello stadio XY
Asse X, asse Y
Metodo di scansione a fase XY
Scansione rapida, scansione fine
Campo mobile asse Z fuoco
100 mm
Metodo di guida asse Z Focus
Elettrico
Risoluzione della telecamera di misurazione
12 milioni
Frequenza massima fotogrammi della telecamera di misurazione
28 fps
Leggero
Sorgente luminosa multizona ad anello interno ed esterno a quattro colori
FOV/mm telecamera di navigazione
180 x 120
CPU
Intel i7
Memoria
32 GB
Conservazione
SSD DA 1 TB
Risoluzione del display
3840 x 2160
Dimensioni del display
27 pollici
Temperatura ambiente di esercizio
5~40℃
Umidità dell'ambiente operativo
Dal 5% al 80% di umidità relativa, senza condensa
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Microscopio digitale 3D
Microscopio di misurazione 3D
Sistema di misurazione della dimensione dell'immagine
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Vibrometro laser Doppler a infrarossi
Modulo microscopio 3D ad altissima profondità
Profilo aziendale
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Il marchio Kathmatic è da tempo impegnato in tecnologie di misurazione ottiche di alta qualità e ultra-precise. L'azienda ha successivamente lanciato tre linee di prodotti: Misurazione interferometrica laser, misurazione microscopica ai-3D ad altissima precisione e osservazione microscopica ai-3D ad altissima definizione, insieme a oltre dieci serie di prodotti.
I suoi prodotti hanno ricevuto numerosi riconoscimenti, tra cui il "Golden Flint Award" rilasciato dalla Chinese Society for Optical Engineering, il "Top Ten innovative Achievements Award" dal Tsinghua University Leading Innovation Industry Expo Forum, e il secondo Premio della Scienza.
Sono ampiamente utilizzati in semiconduttori, batterie al litio, fotovoltaico, produzione intelligente, 3C, produzione high-end, lavorazione e produzione di precisione e altri settori.
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Imballaggio e spedizione
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
Certificazioni
Microscopio da laboratorio ad alta efficienza per attività di misurazione parallela multi-thread
FAQ
D1:quanto costa per unità?
A1:i prezzi variano a seconda dei diversi modelli e configurazioni. Fornisci le tue informazioni di contatto e il tecnico corrispondente ti fornirà un preventivo in base alle tue esigenze

D2:il software per l'apparecchiatura è compatibile?
A2:Sì, il software per l'apparecchiatura è sviluppato internamente e viene fornito in dotazione con l'apparecchiatura, consentendo un utilizzo a vita.
Può essere personalizzato e modificato in base alle mie esigenze?
Dipende dalla situazione specifica. Fornire i requisiti specifici e valuteremo se siamo in grado di soddisfarli.

D3:in quali settori vengono utilizzati principalmente i prodotti Kathmatic?
A3:Semiconductor, 3C electronics, batteria al litio, fotovoltaico, stampo di precisione, automobile, medicina, ricerca scientifica e università. Misurare la confezione dei chip, i difetti delle sfere di saldatura, le parti del telefono cellulare, i poli della batteria, i graffi dello stampo, Apparecchiature mediche, ecc. se avete esigenze specifiche di misurazione, potete contattare il nostro servizio clienti online per mettervi in contatto con un tecnico.

D4:quali sono le attrezzature dei modelli Kathmatic KM, KC, KS, KN e KV rispettivamente?
Serie A4:KM: Sistema di misurazione dell'immagine Auto-3D (2D+3D + Ultra-Depth of Field + Confocal + Film Thickness), con misurazione del flash in batch e automazione completa
Serie KC: Microscopio di misurazione di precisione 3 in 1, in grado di misurare topografia nanoscala/rugosità/spessore pellicola, comunemente utilizzato in semiconduttori e stampi.
Serie KS: Microscopio digitale 3D Ultra DOF, con profondità di campo profonda, cuciture ad alta definizione e osservazione al microscopio, comunemente utilizzato nella ricerca scientifica e nell'ispezione di qualità.
Serie KN: Modulo per microscopia 3D Ultra DOF, per automazione della linea di produzione e rilevamento di difetti.
SERIE KV: Vibrometro laser Doppler a infrarossi, per la misurazione senza contatto di vibrazioni, spostamenti e frequenza.

Informazioni sul fornitore

Questo fornitore è stato verificato da CTI. Puoi verificare il rapporto sul sito ufficiale di CTI utilizzando l’ID “QIP-ASI2641067”. Gli elementi contrassegnati con “verified” sono certificati.

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Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
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Informazioni sulla Nostra Fabbrica & sul Background Aziendale

verified Tipo di Affari
Produttore/Fabbrica & Società Commerciale
Indirizzo
First Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
verified Area dello Stabilimento
3580 Metri Quadrati
verified Numero di Dipendenti
294
verified Capitale Registrato
10,000,000 RMB
verified Tempo Medio di Consegna
Tempi di Consegna di Alta Stagione: 1-3 Mesi, Tempo di Consegna Fuori Stagione, 1-3 Mesi
verified Porto Più Vicino
Shanghai Port
verified Partner della Catena di Fornitura
51

La Nostra Capacità Produttiva & Competenza Tecnica

Prodotti Principali
Microscopi digitali, microscopio ottico, 3D microscopio, microscopio laser, profiler, microscopia confocale, interferometro a luce bianca, vibrometro laser Doppler, tester di rugosità senza contatto, vibrometro Doppler
verified Linee di Produzione
4
verified Macchine di Produzione
CNC Centre
verified Ispettori QA/QC
8 people
verified Tipo di Ispezione per Prodotti Finiti
100% ispezione(Ispezione visiva & Ispezione funzionale)
verified Metodo di Ispezione per Prodotti Finiti
Avere istruzioni e seguirle uniformemente
verified Opzioni di Personalizzazione
Personalizzazione da Campione, Personalizzazione da disegni, Personalizzazione Completa, Personalizzazione minore, Personalizzazione flessibile
verified Servizio ODM Disponibile
Sì
verified R&S Ingegneri
56 people
verified Tracciabilità delle Materie Prime
Sì

La Nostra Esperienza del Settore & Il Nostro Storico Commerciale Globale

Mercato Principale
Nord America, Zuid-Amerika, Europa Orientale, Sud-est Asiatico, Afrika, Oceania, Medio Oriente, Asia Orientale, Europa Occidentale
verified Nuovi prodotti lanciati nell’ultimo anno
Sì

Le Nostre Certificazioni, Standard & Riconoscimenti nel Settore

verified Certificazione del Sistema di Gestione
ISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Altri

FAQ

Quali progetti possono essere testati con KC?
Morfologia 3D, lunghezza/angolo/raggio/distanza dal centro, profondità/gradino, contorno, rugosità (Ra/Rz/Sa/Sz), planarità, volume/area, rilevamento di difetti, generazione automatica di report. Supporta l'analisi parallela di più dispositivi, la scansione e l'elaborazione simultanee, raddoppiando l'efficienza.
Quali campioni possono essere testati con KC?
Metalli, grafite, wafer, PCB in vetro, pad in rame, strutture incise, elettrodi di batterie, componenti sottoposti a trattamento di sbavatura, superfici di frattura, materiali trasparenti, materiali porosi e materiali morbidi possono essere tutti testati. Vi invitiamo a fissare un appuntamento per esigenze di test specifiche e per testare i campioni al fine di visualizzare i risultati.
Qual è la differenza tra KC e i microscopi e i profilometri tradizionali?
I microscopi tradizionali possono solo osservare; il profilometro potrebbe graffiare il campione; il KC-X3000 è un sistema di misurazione completo per l'analisi non invasiva della morfologia 3D, delle dimensioni, della rugosità e della planarità, con una precisione a livello nanometrico e senza danneggiare il campione.
Cos'è il KC-X3000?
Il KC-X3000 è un microscopio di precisione multifunzione sviluppato da Kathmatic, che integra la scansione morfologica, l'osservazione con un'ampia profondità di campo e la misurazione combinata. Utilizza la tecnologia confocale spettrale per ottenere misurazioni microscopiche 3D ad alta precisione e non invasive.
Il microscopio di precisione multifunzione KC-X3000, a cosa si riferisce specificamente la dicitura "multifunzione"?
Il dispositivo integra tre funzioni principali: scansione morfologica, osservazione con un'ampia profondità di campo e misurazione combinata. Un unico dispositivo può sostituire i tradizionali profilometri 3D, i microscopi con un'ampia profondità di campo e gli strumenti di misurazione del contorno, realizzando operazioni integrate di osservazione, scansione e misurazione.
Qual è il principio di misurazione fondamentale utilizzato in questo dispositivo KC? Quali sono i vantaggi?
Dotato di tecnologia confocale a spettroscopia laser e di un modulo di imaging da 12 milioni di pixel, non è influenzato dal materiale del campione, dalla riflettività o dall'inclinazione della superficie e può acquisire con precisione informazioni micro-altimetriche, ottenendo test non invasivi e ad alta precisione.
In quali settori vengono principalmente utilizzati i dispositivi KC?
Ampiamente utilizzati nei settori dei semiconduttori, delle batterie al litio, del fotovoltaico, dell'elettronica 3C, dell'aerospaziale, della lavorazione di precisione, della ricerca e sviluppo di nuovi materiali, della ricerca scientifica universitaria e in altri campi, adatti sia per l'ispezione della qualità industriale che per gli scenari di ricerca accademica.
L'imaging KC può causare sovraesposizione in campioni come metalli altamente riflettenti e wafer di silicio?
No. L'apparecchiatura è dotata di sorgenti luminose controllabili nelle zone di colore rosso, verde e blu, che supportano la regolazione indipendente degli anelli interni ed esterni, il che può sopprimere efficacemente i forti riflessi luminosi. Anche i wafer e le parti metalliche altamente riflettenti possono essere visualizzati chiaramente.
È possibile eseguire test con KC su materiali trasparenti e campioni di pellicole sottili?
Sì. La tecnologia confocale spettrale può essere adattata a materiali trasparenti e semi-trasparenti e può identificare con precisione la morfologia superficiale e l'altezza del gradino della pellicola.

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