Secured Trading Service

Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument

  • Gecontroleerde Leverancier
  • 1 jaar

Productspecificaties

laserlenzenmodel
laserlenzenbereik/μm
z-as resolutie/nm
puntgrootte/μm

Contacteer leverancier

Producthoogtepunten

  • Een geïntegreerd ontwerp met 3-in-1 functionaliteit, dat drie kernfuncties combineert: morfologische scanning, diepgaande beeldreconstructie en beeldverbindingsvorming, en 3D-fusiemeting, allemaal in één apparaat.
  • Het kan meerdere apparaten vervangen, waaronder een optische profielmeter, een microscoop met een groot dieptebereik, een instrument voor contourometing en een meetmicroscoop, waardoor de kosten voor aanschaf van apparatuur en de benodigde ruimte aanzienlijk worden verminderd.
  • Het maakt gebruik van laser-spectrale confocaal scanttechnologie zonder fysiek contact en zonder druk tijdens de meting, waardoor krassen, vervorming of verontreiniging van de monsters worden voorkomen.
  • Geschikt voor fragiele materialen zoals siliciumwafels, dunne films, poreuze koperen materialen en 3D-geprinte onderdelen, waardoor niet-destructief onderzoek mogelijk is.
  • Geschikt voor het meten van microstructuur (in de micrometer range), millimeter-fijne microtextuur en geometrische toleranties op meterschaal.
  • Nieuwe visuele selectiefunctie met een globale navigatiecamera, waarmee u eenvoudig tussen de navigatie- en meetweergave kunt schakelen. Met één klik kunt u een frame selecteren voor grotere oppervlakken of kleine, lokale scangebieden.
  • Het synchrone focusontwerp van de meetlens en de laserlens ondersteunt automatische botsingsdetectie, waardoor het scherpstellen aanzienlijk wordt versneld en de algehele meetefficiëntie met meer dan 50% wordt verbeterd.
  • Genereert 3D-puntwolkmodellen in echte kleuren of pseudo-kleuren. Met één klik kunt u CSV-, Excel- en PDF-rapporten en ruwe puntwolkgegevens exporteren voor traceerbaarheid.
  • All-in-one intelligente analysesoftware met uitgebreide 2D- en 3D-meetinstrumenten, die batchberekeningen ondersteunt voor vlakke afmetingen, contouren, hoogteverschillen, volume/oppervlakte en oppervlakte ruwheid.
  • Compatibel met verschillende materialen, waaronder transparant glas, metaal, schuim, polymeren, halfgeleiderwafels en keramiek.

Verzenden

Online Handelsbescherming

Betalingsgarantie
T/T PayPal ApplePay GooglePay visa mastercard american express discover JCB diners club PIX SPEI OXXO PSE OZOW Platform-beschermde betalingen met terugbetalingsondersteuning voor in aanmerking komende orderproblemen
Platformlogistiek
Duidelijker zendingtracking met platformondersteunde logistiek
Inspectiedienst
Optionele pre-shipment inspectie voor kwaliteits- en kwantiteitscontroles
Nazorg & Geschiloplossing
Platformondersteunde geschiloplossing, inclusief terugbetalingen of retouren indien van toepassing

Alleen bestellingen die via Made-in-China.com Secured Trading zijn geplaatst en betaald, komen in aanmerking voor betalingsbescherming en de bijbehorende platform services.

Productafbeeldingen van Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument

Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument pictures & photos
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
  • Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
    Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument

Vind Vergelijkbare Producten

Beschrijving

Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Productbeschrijving
In hoogwaardige productie- en precisiewetenschappelijke onderzoeksgebieden zoals halfgeleiders, lithiumbatterijen, fotovoltaïsche en ruimtevaart bepaalt de nauwkeurigheid van microscopische inspectie direct de kwaliteit van producten en het niveau van wetenschappelijke onderzoekresultaten. Kathmatic 3 in 1 Precision Measing microscoop KC-X3000 serie drie-in-één precisie microscoop, als een nieuwe generatie van 3D optische meetapparatuur onafhankelijk ontwikkeld door Nanjing Kathmatic Technology, integreert drie kernfuncties: Topografiescans, ultra-diepte observatie, en fusiemeting. Met zijn geavanceerde technologie, rigoureuze materiaalkeuze, nauwkeurige parameters, aanpassingsvermogen in het volledige scenario en een uitgebreid servicesysteem herdefinieert het de standaarden voor hoogwaardige precisie-meetinstrumenten, waardoor gebruikers een one-stop, contactloze, zeer nauwkeurige microscopische inspectieoplossing krijgen.
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Specificatie
Hoofdmachine
Model
KC-X3000serie
Beeldtechnologie
Laserspectrale confocale, true-color beeldopname, dieptesynthese, beeldsamenvoeging
3D Point cloud-bouwmethode
Punt-voor-punt scannen
XY-trapbelasting/kg
5
Voor meer stadiumtypes kunt u contact opnemen met ons bedrijf
Verplaatsbaar bereik XY-trap/mm
158 x 128
XY-fase-aandrijfmethode
Lineaire motor
Verplaatsbare snelheid XY-trap
50 mm/s
XY-fase scaninterval
1~500 μm
Scanrichting XY-fase
X-as,Y-as
XY-scanmethode
Snel scannen, fijn scannen
Focus verplaatsbaar bereik Z-as
100 mm
Focus Z-as aandrijfmethode
Elektrisch
Resolutie van de meetcamera
12 miljoen
Maximale framesnelheid van de meetcamera
28 fps
Licht
Binnen- en buitenring met vier zones-lichtbron
Navigatiecamera FOV/mm
180 x 120
CPU
Intel i7
Geheugen
32 GB
Opslag
1 TB SSD
Schermresolutie
3840 x 2160
Schermgrootte
27 inch
Omgevingstemperatuur tijdens bedrijf
5~40℃
Vochtigheid in de werkomgeving
5% tot 80% relatieve vochtigheid, geen condensatie
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
3D digitale microscoop
3D-meetmicroscoop
Meetsysteem voor beeldafmetingen
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Infrarood laser Doppler-trilmeter
3D-microscoopmodule met ultradiepte
Bedrijfsprofiel
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Het merk Kathmatic heeft zich al lange tijd ingezet voor geavanceerde, ultranauwkeurige optische meettechnologieën. Het bedrijf heeft achtereenvolgens drie productlijnen ontwikkeld: Laserinterferometriemeting, ultrahoge precisie AI-3D microscopische meting, en ultra-high-definition AI-3D microscopische observatie, samen met meer dan tien productseries.
De producten van de organisatie zijn talloze prijzen toegekend, waaronder de "Golden Flint Award" van de Chinese Society for Optical Engineering, de "Top tien Innovative Achievements Award" van het Tsinghua University Leading Innovation Industry Expo Forum, en de tweede Prijs van de Wetenschap.
Ze worden veel gebruikt in halfgeleiders, lithiumbatterijen, fotovoltaïsche, intelligente fabricage, 3C, high-end productie, precisiebewerking en -productie, en andere gebieden.
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Verpakking en verzending
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
Certificeringen
Optische Meetinstrumenten 3D Meetmicroscoop Ruwheidsmeetinstrument
VEELGESTELDE VRAGEN
V1:hoeveel is het per eenheid?
A1:prijzen variëren afhankelijk van verschillende modellen en configuraties. Geef uw contactgegevens op en ik zal ervoor zorgen dat de betreffende technische technicus u een offerte op basis van uw behoeften zal doen toekomen

V2:is de software voor de apparatuur compatibel?
A2:Ja, de software voor de apparatuur wordt in eigen beheer ontwikkeld en wordt bij de apparatuur geleverd, zodat de apparatuur levenslang kan worden gebruikt.
Kan het worden aangepast en aangepast aan mijn behoeften?
Dat hangt af van de specifieke situatie. Geef uw specifieke wensen op en we zullen beoordelen of we hieraan kunnen voldoen.

V3:in welke sectoren worden Kathmatic-producten voornamelijk gebruikt?
A3:halfgeleider, 3C-elektronica, lithiumbatterij, fotovoltaïsch, precisiematrijs, auto, medisch, wetenschappelijk onderzoek en universiteiten. Meet chipverpakkingen, defecte soldeerkogels, onderdelen van mobiele telefoons, batterijpolen, krassen in schimmels, Medische apparatuur, etc. als u specifieke meetbehoeften hebt, kunt u contact opnemen met onze online klantenservice om u te verbinden met een technisch ingenieur.

V4:welke apparatuur zijn de Kathmatic modellen KM, KC, KS, KN en KV respectievelijk?
A4:KM-serie: Auto-3D-beeldmeetsysteem (2D+3D + ultradiepte van veld + confocale + filmdikte), met batchflitsmeting en volledige automatisering
KC-serie: 3-in-1 precisie-meetmicroscoop, geschikt voor nanoscale topografie/ruwheid/laagdiktemetingen, vaak gebruikt in halfgeleiders en matrijzen.
KS-serie: Ultra DOF 3D digitale microscoop, met diepe scherptediepte, high-definition stiksels en microscopische observatie, die veel wordt gebruikt in wetenschappelijk onderzoek en kwaliteitsinspectie.
KN-serie: Ultra DOF 3D-microscopiemodule, voor automatisering van productielijn en detectie van defecten.
KV-serie: Infrarood laser-Doppler-trilfunctie, voor contactloze meting van trillingen, verplaatsing en frequentie.

Over de leverancier

Deze leverancier is gecontroleerd door CTI. Verifieer het rapport op de officiële website van CTI met ID QIP-ASI2641067. Items die zijn gemarkeerd met "verified" zijn gecertificeerd.

Watch Video
Bekijk de video
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.

Over onze fabriek & Bedrijfsachtergrond

verified Soort bedrijf
Fabrikant/fabriek & Handelsbedrijf
Adres
First Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
verified Plantengebied
3580 Vierkante Meter
verified Aantal Werknemers
294
verified Maatschappelijk Kapitaal
10,000,000 RMB
verified Gemiddelde Doorlooptijd
Doorlooptijd Hoogseizoen: 1-3 Maanden, Doorlooptijd Buiten Het Seizoen, 1-3 Maanden
verified Dichtstbijzijnde Haven
Shanghai Port
verified Partners in de toeleveringsketen
51

Onze productiecapaciteit & Technische expertise

Hoofd Producten
Digitale microscopen, optische microscoop, 3D microscoop, laser microscoop, profiler, confocale microscopie, witlichtinterferometer, laser Doppler vibrometer, niet-contact ruwheidstester, Doppler vibrometer
verified Productielijnen
4
verified Productiemachines
CNC Centre
verified QA/QC-inspecteurs
8 people
verified Inspectietype voor Afgewerkte Producten
100% inspectie(Visuele inspectie & Functie-inspectie)
verified Inspectiemethode voor afgewerkte producten
Hebben instructies en volgen deze consequent op
verified Aanpassingsopties
Maatwerk vanaf monsters, Maatwerk vanuit ontwerpen, Volledige Aanpassing, Kleine aanpassingen, Flexibele aanpassing
verified ODM-service beschikbaar
Ja
verified R&D Ingenieurs
56 people
verified Traceerbaarheid van Grondstoffen
Ja

Onze branche-ervaring & Wereldwijd bedrijfsrecord

Belangrijkste Markten
Noord Amerika, Sud America, Oost-Europa, Zuid-Oost Azië, Africa, Oceanië, Midden-Oosten, Oost Azië, West-Europa
verified Nieuwe producten gelanceerd in het afgelopen jaar
Ja

Onze certificeringen, normen & Erkenning in de branche

verified Certificering Van Managementsysteem
ISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Anderen

FAQ

Welke projecten kan KC testen?
3D-vorm, lengte/hoek/radius/afstand tot het midden, diepte/stap, contouren, ruwheid (Ra/Rz/Sa/Sz), vlakheid, volume/oppervlakte, defectdetectie, automatische rapportgeneratie. Ondersteunt parallelle analyse van meerdere apparaten, parallel scannen en verwerken, waardoor de efficiëntie verdubbelt.
Welke soorten materialen kan KC testen?
Metalen, grafiet, wafers, glasprintplaten, koperen contactpunten, geëtste structuren, batterijelektroden, ondergronde onderdelen, breukvlakken, transparante materialen, poreuze materialen en zachte materialen kunnen allemaal worden getest. Neem contact op om een afspraak te maken voor specifieke testbehoeften en om uw monsters te laten testen, zodat u de resultaten kunt zien.
Wat is het verschil tussen KC en gewone microscopen en profielmeters?
Gewone microscopen kunnen alleen observeren; een profielmeter kan het monster beschadigen; de KC-X3000 is een alles-in-één meetsysteem voor contactloze, 3D-vorm, afmetingen, ruwheid en vlakheid, met een nauwkeurigheid op nanoniveau en zonder schade aan het monster.
Wat is de KC-X3000?
De KC-X3000 is een precisiemicroscoop met drie functies, ontwikkeld door Kathmatic, die vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde metingen integreert. Het maakt gebruik van spectrale confocale technologie om contactloze, hoogwaardige 3D-microscopische metingen te realiseren.
De KC-X3000 is een precisiemicroscoop met drie functies. Waar verwijst de term "drie in één" naar?
Het apparaat integreert drie kernfuncties: vormscannen, observatie met een zeer groot dieptebereik en gecombineerde metingen. Eén apparaat kan traditionele 3D-profielmeters, microscopen met een zeer groot dieptebereik en instrumenten voor contourenmeting vervangen, waardoor geïntegreerde observatie, scannen en meetbewerkingen mogelijk zijn.
Wat is het kernmeetprincipe dat in dit KC-apparaat wordt gebruikt? Wat zijn de voordelen?
Het is uitgerust met laser spectroscopische confocale technologie en een beeldmodule met 12 miljoen pixels. Het wordt niet beïnvloed door het materiaal van het monster, de reflectiviteit of de oppervlaktehelling en kan nauwkeurig microhoogte-informatie vastleggen, waardoor contactloze, hoogwaardige, niet-destructieve tests mogelijk zijn.
In welke industrieën worden KC-apparaten voornamelijk gebruikt?
Het wordt veel gebruikt in de halfgeleiderindustrie, lithiumbatterijen, zonne-energie, 3C-elektronica, lucht- en ruimtevaart, precisiebewerking, onderzoek en ontwikkeling van nieuwe materialen, universitair wetenschappelijk onderzoek en andere gebieden. Het is geschikt voor zowel industriële kwaliteitscontroles als academisch onderzoek.
Zal het beeldvormen met KC monsters overbelichten, zoals sterk reflecterende metalen en siliciumwafers?
Nee. Het apparaat is uitgerust met regelbare lichtbronnen in de rode, groene en blauwe kleurzones, met ondersteuning voor onafhankelijke dimming van de binnen- en buitenringen, waardoor sterke lichtreflectie effectief kan worden onderdrukt. Zelfs sterk reflecterende wafers en metalen onderdelen kunnen duidelijk worden afgebeeld.
Kan KC worden gebruikt om transparante materialen en dunne filmmonsters te testen?
Ja. Spectrale confocale technologie kan worden aangepast aan transparante en semi-transparante materialen en kan de oppervlakte-morfologie en de stapehoogte van de film nauwkeurig identificeren.

Stuur uw aanvraag naar deze leverancier

Contactgegevens
Ontvanger
bericht

Voer tussen 20 tot 4000 karakters.

Dit is niet wat je zoekt? Plaats Nu het Verzoek tot Scourcing